靜態激光粒度測定_大量程激光粒度測定
激光粒度儀

德國Fritsch公司是實驗室樣品預處理和顆粒度分析的專家。

其生產的A22 NanoTec 大量程納米激光粒度儀，采用聚焦激光散射、衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。最低檢測下限可達0.01µm ，在全球同類產品中都處于領先地位。

A22 NanoTec 的推出，可以完全替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效，使用更加便捷。


技術參數：
1. 分析方法：激光散射/激光衍射
2. 濕法測量范圍：0.01 - 2000 µm
3. 測量時間：5-10 s（單一測量時測量值記錄）；2 min（整個測量循環）
4. 分析樣品回路體積：300-500ml，可調節容積, 可調速徑向泵
5. 測量周期：2min
6. 光學排列：反傅立葉設計，活動的測量元件（FRITSCH專利）
7. 測量通道：165
8. 測量結果的重現性：≤0.5％
9. 光源：波長532nm 1束、波長940 nm 1束
10. 雙激光兩束設計：綠光、紅色雙激光測量光束
11.傅里葉透鏡：260mm和560mm焦距（綠光或紅外線）
12.軟件：采用FRITSCH MaS控制軟件，用于控制，記錄和評估測量結果
13.符合國際ISO13320標準


主要特點：
1. 大量程激光粒度儀A22 NanoTec，可完全替代以前的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀
2. 雙激光三束設計: 綠光1束 (532nm)， 紅色激光1束 (940nm)
3. 先進的曲光系統
4. 雙測量位置
5. 測量時間10 sec.
6. 高效的自動光束測量陣列
7. 測量系統和濕法分散系統獨立分開
8. 適用于在水相及大多數有機相（例如異丙醇） 中使用
9.可調節容積, 通過電腦可實現選擇：300、400、500ml
10.測量單元使用 Cardridge-like 設計 -> 易于轉換改變
11.可調節的超聲波探頭
12.無須使用攪拌器



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