CMI257 — 通用型（繩型探針）英國牛津Oxford

CMI257多功能測厚儀涂層厚度測量儀，主要用于需要快速、簡易、精確和重復測量的專業質保人員。

CMI257獨有繩型探針，能更好的用于多種不同測量位置的作業。且該儀器擁有集成探針，也能獲得相同性能。
CMI257獨有的繩型探針，可以在難以到達的位置進行測量。 
產品特點： 
→ 數據統計功能 
→ 基體歸零功能 
→ 工廠校準 
→ 自動基底探測 
→ 集成或外置的探針設計 
→ IP52防塵防水保護 
常規型 ：
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。 
覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環，是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。 
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。 
隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用最廣泛的測厚儀器。 
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。

經營范圍：
銷售機電產品、機械設備、自動化設備、環保設備、電線電纜、汽摩配件、建材、金屬材料及制品、五金交電、儀器儀表、通訊產品及器材、辦公用品、計算機軟硬件及輔助設備（除計算機信息系統安全專用產品）、橡塑制品，商務信息咨詢，投資管理，機電設備維修，計算機、機械設備專業領域內的技術咨詢、技術服務。