英國Taylor便攜式粗糙度儀Surtronic S-116總代理

簡介：
SURTRONIC S116 便攜式粗糙度儀能夠為您的粗糙度測量需求提供多種解決方案， 包括多樣化的系統和應用相關的配件， 并且能夠為您的特殊需求定制工裝。耐沖擊性橡膠化塑性整個機身， 聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性，抗磨損的齒輪和軸承堅固的不銹鋼驅動機構。 大容量鋰聚合物電池， 一次充電后可進行至少2000次測量。即開即用能夠讓儀器在待機狀態下1秒即可啟用測量， 充滿電后待機能力長達5000個小時。
任何表面， 任何高度。 包括一個50mm長的測針升降裝置和直角附件，以及深達70mm的測量能力， 在不需要昂貴的墊塊、支架或工裝的情況下， 對具挑戰性的測量位置進行檢測。 防滑的V型腳架設計使系統能夠用在平滑或彎曲的平面上。 測針還能夠反方向底部測量。
像其它導航或智能手機一樣， 擁有4.3寸大尺寸觸屏， 易讀性強。 一頁上可顯示多至7個參數。可將屏幕旋轉四個方向。 輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。A類型USB 2.0可連接便攜式打印機或USB存儲設備。 迷你USB 2.0用于充電或連接電腦傳輸數據。
泰勒•霍普森有限公司專業從事超高精度表面及其輪廓形狀測量，是全球領先的圓度/圓柱度儀、表面粗糙度輪廓儀、白光干涉表面輪廓儀及超精單點金剛石車床等設備的供應商，總部位于英國萊斯特市，我們提供接觸與非接觸測量方法以滿足多種應用需求，公司產品廣泛應用于現代制造業及新興產業，如半導體、硬盤、精密光學、微納米學等。

技術參數
數據顯示 ：
顯示屏每頁顯示7個測試結果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）
可以打印測試結果和圖形
使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結果
數據存儲：
儀器可以存儲100個測試數據和一個圖形
儀器支持U盤大4G，多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結果，共70批數據。
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數據。
電源：
充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充電時間：4小時
電池壽命：充電一次可以做2000次測試
待機時間：5000小時
由待機狀態到開機測試狀態，長時間不超過1秒I
自動關機：30秒– 6小時可以自行設置
技術指標：
測量范圍：200 um 100 um 10 um 
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 
重復精度 (Ra) ：1%測試值+底噪
傳感器原：電感
測量力：150-300mg
測針針尖半徑：標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試方式：滑動掃描
校準：
自動軟件校準    標準：ISO4287
 
測試參數：
三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器：2CR、Gaussian
評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
大行程：17.5mm
測試速度：
測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
測試參數：
執行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
測試單位：um/uin
 可選附件
測試平臺：
00級大理石平板：400X250X70mm
有效高度：280mm。
可調Y軸V型鐵
可調范圍：±5mm
V型鐵長度100mm
 
SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改進：
1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池；
2、顯示屏為觸摸屏；
3、可以顯示測試圖形；
4、SURTRONIC 25只能測試10個參數，S116在不同標準下可以測量12、11、14個參數（見技術參數）；
5、原來SURTRONIC 25使用電位器校準測試結果，現在改為自動軟件校準。方便使用；
6、顯示屏顯示的結果（數據和圖形）可以旋轉，可以方便的從四個方向觀察測試結果；
7、儀器底部為V形，測試軸類部件方便可靠；
8、測試數據存儲增加了存儲圖形功能；
9、可以使用U盤直接存儲，一個4G容量U盤可存儲3.9萬個圖形，數據可以存儲70批次，每批次為10萬個測試數據。