德國進口馬爾 Mahr Perthometer S2粗糙度儀

Perthometer S2粗糙度儀技術特征
Perthometer S2.  配置 PZK 驅動器的臺式表面測量站

Perthometer S2 還包括以下特點:
•  條形圖顯示傳感器位置信號
•  數字按鈕輸入
•  可記錄測量日期和時間
•  輪廓水平和垂直方向縮放比例可調
•  可快速顯示測量結果, 包括參數和輪廓演示
Perthometer S2技術數據
測量原理   探針接觸測量法
測量范圍
范圍/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步長/垂直范圍
11,200 測量點/標準掃瞄長度
標準  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
輪廓類型  R, D, P, W (輪廓可例轉) 
垂直方向縮放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向縮放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
用于評定長度輪廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
圖形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
掃瞄長度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
掃瞄長度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊掃瞄長度 0.56 至 120.00 mm, 可調
(.022 in 至 4.724 in)
取樣長度個數 1 至 5, 可選
濾波器 (根據 ISO/JIS)  相位濾波器 (高斯濾波器), 按照
DIN EN ISO 11562 標準
特殊濾波器  按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
截止波長 lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
(.003/.010/.032/.100/.320 in)
短截止波長 lc/可選   有
參數  Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq, 
(帶有公差極限)  Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
(DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
Rz1max, Rmax (DIN 4288),
Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
(DIN EN ISO 13565)
Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
W, Aw, Rx, Wx, Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
(ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
(JIS B 601)
參數表 Rmr; Pmr; Rdc; Pdc; Rk; Rz; Rp;
Nf; CR/CF/CL (輪廓種類可選, 基線
和交叉線可調)

篤摯儀器公司：
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