英國牛津Oxford CMIEZ 涂層測厚儀

不同種類的測厚儀應用：

1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種工業設備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工。
3、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
5、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
6、超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，滄州歐譜當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

測量范圍
測量范圍 → 0-1250um
工作電源 → 兩節五號電池
測量精度誤差 → 零點校準 ±（1.5+3%H）；二點校準±（1%～3%）H+1.5
環境溫度 → 環境溫度0-40℃
相對濕度 → ≤85%
最小基體 → 10*10mm
最小曲率 → 凸5mm;凹5mm
最薄基體 → 0.4mm
重量 → 99克（含電池）
尺寸 → 102mm*66mm*24mm
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